美國(guó)博曼（BOWMAN）X射線(xiàn)熒光膜厚測(cè)試儀  采用真正的基本參數(shù)原理（FP）來(lái)測(cè)量厚度，準(zhǔn)。實(shí)用性:無(wú)數(shù)次的發(fā)明,包括使用DCM自動(dòng)對(duì)焦方法和透明的準(zhǔn)值器，操作簡(jiǎn)單。
膜厚測(cè)試儀  主要功能
可進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)及二點(diǎn)校準(zhǔn)。
可對(duì)測(cè)頭進(jìn)行基本校準(zhǔn)。
設(shè)有五個(gè)統(tǒng)計(jì)量：平均值（MEAN）、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、測(cè)試次數(shù)（NO）、標(biāo)準(zhǔn)偏差（S.DEV）。
可存貯和統(tǒng)計(jì)計(jì)算15個(gè)測(cè)量值。
具有兩種測(cè)量方式：連續(xù)測(cè)量方式（CONTINUE）和單次測(cè)量方式（SINGL）
具有自動(dòng)關(guān)機(jī)功能。
刪除功能：對(duì)測(cè)量中出現(xiàn)的單次可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除，也可刪除存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)，以便進(jìn)行新的測(cè)量。 
操作過(guò)程有蜂鳴聲提示。
有欠壓指示功能。
有錯(cuò)誤提示功能。
博曼膜厚測(cè)試儀，鍍層測(cè)厚儀，膜厚測(cè)試儀，X-射線(xiàn)鍍層測(cè)厚儀，可滿(mǎn)足所有鍍層厚度測(cè)量需求的雙檢測(cè)器型鍍層測(cè)量?jī)x，實(shí)現(xiàn)了超微小面積，高精度無(wú)損測(cè)量?？蓽y(cè)量電鍍、蒸鍍、離子鍍等各種金屬鍍層的厚度。可分析單層鍍層,雙層鍍層,三層鍍層,合金鍍層.可分析鍍液的主成份濃度(如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等),簡(jiǎn)單的核對(duì)方式,無(wú)需購(gòu)買(mǎi)標(biāo)準(zhǔn)藥液. 可測(cè)元素范圍：鈦(Ti) –鈾(U)可測(cè)量厚度范圍：原子序22-92，0.1-0.8μm ，可通過(guò)CCD攝像機(jī)來(lái)觀察及選擇任意的微小面積以進(jìn)行微小面積鍍層厚度的測(cè)量，避免直接接觸或破壞被測(cè)物。讓客戶(hù)滿(mǎn)意是我們金東霖科技始終的目標(biāo).