KP020 開爾文探針
具體成交價以合同協(xié)議為準
- 公司名稱 上海麥科威半導體技術(shù)有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號 KP020
- 產(chǎn)地 英國
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時間 2025/6/23 16:35:58
- 訪問次數(shù) 160
產(chǎn)品標簽
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應用領(lǐng)域 | 綜合 |
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主要應用范圍:有機和非有機半導體、金屬、薄膜、太陽能電池和有機光伏材料、腐蝕等領(lǐng)域的研究。
功函分辨率1-3meV。
掃描面積:5mm-300mm(四種型號,各型號掃描面積 不同)。
掃描分辨率:0.3um。
自動高度調(diào)節(jié)。
產(chǎn)品特點:
單點開爾文探針是一種非接觸、非破壞性振動電容裝置,用于測試導電材料的功函或半導體材料表面的表面電勢,表面功函。由材料表面最頂部的1-3層原子或分子決定,因而開爾文探針是一種非常靈敏的表面分析技術(shù)。KP Technology公司目前可提供具有1-3meV業(yè)界分辨率的測試系統(tǒng)。
應用領(lǐng)域:
有機和非有機半導體
金屬
薄膜
太陽能電池和有機光伏材料
腐蝕
升級附件:
大氣光子發(fā)射系統(tǒng)
表面光電壓(QTH or LED)
SPS表面光電壓光譜(400-1000nm)
金或不銹鋼探針,直徑0.05mm to 20mm
相對濕度控制和氮氣環(huán)境箱