布魯克電鏡專用原位納米力學(xué)系統(tǒng) PI 85L
- 公司名稱 上海富瞻環(huán)??萍加邢薰?/a>
- 品牌 Bruker/布魯克
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
- 更新時間 2025/7/4 11:44:35
- 訪問次數(shù) 55
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產(chǎn)地類別 | 進口 | 價格區(qū)間 | 面議 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工,生物產(chǎn)業(yè),石油,制藥/生物制藥 |
布魯克電鏡專用原位納米力學(xué)系統(tǒng) PI 85L
簡介
布魯克Hysitron PI 85L是專為SEM設(shè)計的多用途測試系統(tǒng),適用于熱學(xué)、電學(xué)和力學(xué)測試。它利用SEM高分辨率的優(yōu)勢,可在測試過程中實時觀測材料的動態(tài)變化,克服了傳統(tǒng)納米壓痕儀只能觀察壓痕前后形貌變化的局限。該系統(tǒng)具有高精度、低噪音和多種測試功能模塊,如動態(tài)力學(xué)測試、MEMS加熱、拉伸和電學(xué)測試等,能夠全面分析材料在不同條件下的行為。
布魯克Hysitron PI 85L是SEM專用的多用途、高靈敏度熱學(xué)、電學(xué)和力學(xué)的測試系統(tǒng),利用SEM的高分辨率,可以直接觀測整個材料動態(tài)變化的過程。傳統(tǒng)納米壓痕儀通過光學(xué)顯微鏡或原位掃描只能觀察到壓痕前及壓痕后的形貌變化,中間過程無法觀察到,載荷位移曲線上的一些突變我們無法解釋,甚至單從曲線分析會導(dǎo)致錯誤的解釋。
PI 85L安裝于電鏡,可以精確施加載荷,檢測位移,在電鏡下做壓痕、拉伸、彎曲、壓縮、加熱、電學(xué)和劃痕測試,可以借助電鏡的高分辨率,觀測并記錄整個材料測試過程,觀測材料在力下發(fā)生的動態(tài)變化,如金屬蠕變、相變、斷裂起始等。
PI 85L采用Hysitron技術(shù)三板電容傳感器,具備載荷和位移同時監(jiān)測和驅(qū)動的功能。具備業(yè)界的精度,重復(fù)性和低背景噪音等優(yōu)點。PI 85L擁有多種特色測試功能模塊可供選擇,如動態(tài)力學(xué)測試、MEMS加熱、拉伸測試、電學(xué)測試、納米劃痕等功能模塊。