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半導體外延片表面瑕疵檢測步驟

來源:深圳市熒鴻科技有限公司   2025年07月09日 14:50  

對半導體外延片進行表面瑕疵檢測,我們可采用深圳熒鴻SL8500表面瑕疵檢測燈。SL8500是一款桌面式瑕疵檢測燈,采用一顆20W進口LED,通過在LED前增加深圳熒鴻研發(fā)的光學透鏡,是其照度可達9w-15wLX,照射面積為直徑8-16光圈。表面瑕疵檢測燈SL8500檢測半導體外延片步驟如下,更多關于半導體瑕疵檢測可咨詢深圳熒鴻.

圖片 1.jpg

SL8500檢測外延片表面瑕疵檢測步驟:

1-在檢測臺放置黑色背景板
2-SL8500檢測燈燈頭調整距離檢測臺40cm,燈頭與檢測臺角度為垂直90度(不同的燈不一樣)
3-接通電源,打開SL8500檢測燈并將亮度調大
4-將外延片置于檢測臺上并與水平角度保持一定角度(角度可見使用說明)
5-檢測員不斷調整外延片與水平的角度直到找到合適的檢測視角


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