半導(dǎo)體技術(shù)測試系統(tǒng)推薦——介電特性評估系統(tǒng)AMQ
計測產(chǎn)品推薦
電容器溫度特性評估系統(tǒng)
介電特性評估系統(tǒng)AMQ
“電容器溫度特性評估系統(tǒng)”是一個自動多通道系統(tǒng),可將環(huán)境測試箱與測量和評估系統(tǒng)相結(jié)合,以便高效收集數(shù)據(jù)。
測試內(nèi)容
*記錄的測量結(jié)果可以在圖形和列表中實時查看。
八個通道的數(shù)據(jù)可以顯示在一個圖表上。
可以根據(jù)偏好選擇要顯示的頻道。
產(chǎn)品性能
1、最多可自動測量128個通道
該系統(tǒng)可在不同溫度環(huán)境下測量多個通道的靜電容量(C)、損耗系數(shù)(D)和阻抗(Z)。
您可以選擇8個通道的倍數(shù),最多128個通道。
2、圖形功能允許實時查看測量結(jié)果
收集的數(shù)據(jù),包括不同溫度、頻率和時間下的電氣特性值和變化率,可通過各種圖形函數(shù)實時查看。
3、多測試模式
有三種測試模式可選:溫度特性評估測試、定值運行測試和頻率特性測試。
溫度特性評估測試
在此測試模式下,自動記錄特性數(shù)據(jù),并與溫度同步變化,最多40步。
定值運行測試
該測試模式測量特定溫度環(huán)境下特性隨時間的變化,并自動記錄數(shù)據(jù)。
頻率特性評估測試
該測試模式自動記錄各種頻率下的特性數(shù)據(jù),同時在特定溫度環(huán)境中改變頻率。
測試可與溫度特性評估測試或定值運行測試相結(jié)合。
SMD組件專用夾具(可選)
4、各種可選夾具可用于不同的測試樣品(可選)
除了用于SMD元件的專用夾具外,我們還提供針對分立器件形狀定制的夾具。
SMD組件專用夾具(可選)
規(guī)格
*測量數(shù)據(jù)取決于試樣和測試條件。
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