老化測試高溫試驗(yàn)箱詳解

老化測試高溫試驗(yàn)箱（Aging Test Chamber或High Temperature Test Chamber）是一種用于模擬高溫環(huán)境，測試材料、電子元器件、PCB、汽車部件等產(chǎn)品在長期高溫條件下的可靠性、耐久性及性能變化的專業(yè)設(shè)備。廣泛應(yīng)用于電子、汽車、航空航天、化工、光伏等行業(yè)。

一、老化測試高溫試驗(yàn)箱的核心功能

1. 主要測試目的

2. 關(guān)鍵性能參數(shù)

二、設(shè)備結(jié)構(gòu)與工作原理

1. 核心組成部分

2. 工作流程示例（以PCB老化測試為例）

1. 樣品裝載

   將PCB板置于試驗(yàn)箱擱板上，避免遮擋風(fēng)道。

2. 參數(shù)設(shè)置

   輸入溫度曲線（如125℃±2℃，持續(xù)96小時）。

3. 啟動測試

   設(shè)備自動升溫并保持恒溫，記錄實(shí)時數(shù)據(jù)。

4. 結(jié)果分析

   測試后檢查PCB的焊點(diǎn)可靠性、元件參數(shù)漂移等。

三、行業(yè)應(yīng)用案例

1. 電子元器件老化測試

• 測試條件

  125℃/1000小時（模擬10年使用壽命）。

• 判定標(biāo)準(zhǔn)

  失效比例＜1%（如AEC-Q200 Grade 1認(rèn)證要求）。

2. 汽車部件耐高溫測試

• 測試標(biāo)準(zhǔn)

  ISO 16750-4（85℃/85%RH + 循環(huán)溫度沖擊）。

• 案例

  電動汽車電池模塊在高溫下的絕緣性能測試。

3. 光伏組件老化試驗(yàn)

• 測試要求

  IEC 61215（85℃濕熱老化+UV輻照，模擬25年戶外老化）。

四、選型與使用注意事項(xiàng)

1. 選型關(guān)鍵因素

2. 維護(hù)與校準(zhǔn)

• 日常維護(hù)

  定期清潔內(nèi)箱灰塵，檢查加熱器電阻值。

• 校準(zhǔn)要求

  每年需第三方校準(zhǔn)（如CNAS認(rèn)證機(jī)構(gòu)），確保溫度精度符合JJF 1101-2019。