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‌國創(chuàng)科儀 X射線發(fā)射譜儀 SuperXAFS E6000 

核心參數(shù)

1.能量范圍：5-18keV

2.能量分辨率：≤2.0eV@(7-9keV)

3.能量重復(fù)性：≤30meV@24h

4.X射線源：配置功率≥100W微焦斑×射線源(2個(gè)靶材Pd/W),電壓20-40kV,管電流4mA,核心-空穴生成速率≥1011/s @(7-9keV)       

5.面探測器：配備毛細(xì)管聚焦鏡，樣品處聚焦光斑≤100um,聚焦鏡可自動(dòng)進(jìn)行切換

6.調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)精度：能量掃描時(shí)最小步長0.1eV

‌國創(chuàng)科儀 X射線發(fā)射譜儀 SuperXAFS E6000 

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是一種用于元素定性和定量分析的儀器，主要作用包括：

確定樣品中的元素組成：可檢測從鈉（Na）到鈾（U）的元素，廣泛應(yīng)用于金屬、礦石、土壤、生物樣品等。

測量元素含量：通過分析特征 X 射線的強(qiáng)度，定量計(jì)算樣品中各元素的質(zhì)量分?jǐn)?shù)，精度可達(dá) ppm 級（百萬分之一）。

非破壞性檢測：無需破壞樣品，適用于文物、鍍層、薄膜等特殊樣品的分析。

XRF 因其快速、非破壞性和多元素分析能力，廣泛應(yīng)用于以下領(lǐng)域：

1. 材料科學(xué)與工業(yè)

金屬成分分析：鋼鐵、鋁合金、電子元器件中的合金元素檢測（如 Cu、Fe、Ni 等）。

鍍層與薄膜檢測：測量涂層厚度（如 PCB 板鍍金層）和成分（如塑料表面金屬鍍層）。

半導(dǎo)體材料：分析硅片中的雜質(zhì)元素（如 Fe、Cu），確保芯片純度。

2. 地質(zhì)與礦產(chǎn)勘探

礦石成分分析：快速檢測礦石中的金屬元素（如 Au、Ag、Cu、Fe）含量，指導(dǎo)采礦和選礦。

巖礦鑒定：通過元素組成區(qū)分巖石類型（如花崗巖、玄武巖），輔助地質(zhì)構(gòu)造研究。

3. 環(huán)境與生態(tài)監(jiān)測

土壤與水質(zhì)污染檢測：分析重金屬（如 Pb、Cd、Hg）含量，評估環(huán)境污染程度。

固廢與危險(xiǎn)品分析：鑒別工業(yè)廢料中的有害元素，支持垃圾分類和處理。