目錄:國創(chuàng)科學(xué)儀器(蘇州)有限公司>>X射線吸收譜儀>> SuperXAFS M9000多功能X射線吸收譜儀
應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,綜合 |
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國創(chuàng)科儀 多功能X射線吸收譜儀SuperXAFS M9000
核心參數(shù)
1.能量范圍:4.5-20keV
2.樣品處光通量:≥1×10? photons/s @7-9 keV
3.能量分辨率:0.5-1.5 eV@7-9 keV
4.能量重復(fù)性:≤30 meV@24h
5.調(diào)節(jié)機構(gòu)精度:能量掃描最小步長0.1eV
工作模式
1.支持近邊快掃功能。
2.支持透射/熒光模式吸收譜、發(fā)射譜。
功能亮點
1.定制多樣品自動采集,減少進樣次數(shù)。
2.提供標(biāo)樣數(shù)據(jù)庫,簡化用戶分析。
3.支持原位場景定制,提供吸收譜專業(yè)數(shù)據(jù)解析指導(dǎo)。
國創(chuàng)科儀 多功能X射線吸收譜儀SuperXAFS M9000
X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)譜儀(XAFS/XES)是一種用于研究材料局部結(jié)構(gòu)和電子狀態(tài)的非破壞性技術(shù)。該技術(shù)利用 X 射線與物質(zhì)的相互作用,獲取指定元素的近邊吸收譜(XANES)、擴展遠(yuǎn)邊吸收譜(EXAFS)和特定能帶發(fā)射譜,分別用于分析元素的化學(xué)狀態(tài)和價態(tài)、原子周圍局部環(huán)境的配位結(jié)構(gòu),以及甄別測量元素的配位原子類別,是表征晶態(tài)和非晶態(tài)材料微觀配位結(jié)構(gòu)的重要手段。XAFS/XES主要應(yīng)用于催化劑 、合金、陶瓷、環(huán)境污染物、各類晶態(tài)和非晶態(tài)材料及生物樣品內(nèi)金屬離子的價態(tài)、配位結(jié)構(gòu)及電子狀態(tài)分析,以及材料局部結(jié)構(gòu)在熱場、光場、電場和磁場變化下的局部結(jié)構(gòu)動態(tài)演化過程研究等。
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