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TC-SLQZ型氣動和真空探針土壤采樣PX 2573
UltraINSP 晶圓表面缺陷檢測系統(tǒng)PX 7157
Luminous NA-8000日本ULVAC愛發(fā)科半導體灰化裝置NA系列PX 4985
PCD-400AKYOWA共和應力測試儀PCD-400B多功放大器PX 3055
芯片X‘ray檢測設備PX 2778
BXA58超高阻雙電四探針測試儀PX 3129
PZ-332C半導體共面性測量設備PX 5967
BF1200 361200BAMO電導率探針PX 3690
METREL MI3321多功能安規(guī)測試儀PX 4099
薄膜應力測量系統(tǒng)PX 3248
Hologenix微米晶圓缺陷檢測系統(tǒng)PX 2136
HEP-MC8000晶圓檢測機PX 2233
自由曲面三維面型檢測儀PX 2045
HC系列日本kita電路板接觸式集成彈簧探針PX 5092
FPEH-MX70X晶圓翹曲度測量儀PX 3044
fireye離子探針69ND1-1000K4現(xiàn)貨銷售PX 2334
JCC-1D 機床靜剛度測試儀PX 2494
四探針法粉末電導率測試儀PX 3417
HCTZ-2S四探針測試儀PX 4787
德國Nedo伸縮式測量尺F380112供應PX 4902
TruPlasma Match1000Huttinger 等離子射頻電源PX 3874
2830 ZT馬爾文帕納科晶圓分析儀PX 2963
T2000-TLS-01韓國TANKTECH儲罐罐底干燥度測試尺PX 1390
A-1034-0026RENISHAW對刀儀PX 6188
A-1034-0026RENISHAW對刀儀PX 4710
DP-3手持式四探針測試儀PX 5137
德國舒賜SCHUTZ探針PX 2510
Frontier Semiconductor薄膜應力及基底翹曲測試設備PX 2254
hp-100日本HIOS扭力測試儀東莞供應PX 6026
美國TYCO泰科851PH 516.850.055 現(xiàn)貨直郵PX 3952
280SI美國四探針電阻率/方塊電阻測試儀PX 2204
M-3手持式四探針電阻率測試儀PX 4505
RTS-8型四探針測試儀PX 4244
qirui光學薄膜測厚儀PX 2790
WKPT-08YIOU品牌五孔探針皮托管PX 4208
美國FormFactor探針PX 2760
原裝德國BAMO電導率探針PX 3066
KPM AQUA-PICCOLO D-Le 6-40 水份測試儀PX 3480
動物疫病預防中心非洲豬瘟室內實操核酸檢測儀PX 2106
HD-SZT-2C/SZT-C四探針測試儀PX 3195
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集成電路測試與分選設備
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其它半導體行業(yè)儀器設備
非接觸式晶圓厚度測量儀 MX 301-Q
晶圓電子束密閉檢測儀
晶圓光學除塵儀
自動粉體半導電電阻測試儀
EFFILUX 晶圓玻璃表面檢測燈 PSVLX1-F5016
半導體晶圓形貌測量機
晶圓測厚儀 MX203-4-21
晶圓厚度測量儀 MX 102-8
全自動非接觸電阻率方阻測試儀
晶圓缺陷光學檢查燈185LE目視光源185LE現(xiàn)貨
-日本YAMADA山田半導體檢查燈--備庫銷售
上海衡平儀器儀表有限公司
賽默飛色譜及質譜
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