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全自動(dòng)帶顯微鏡多點(diǎn)測(cè)量膜厚儀
GL-SPM-D2T光學(xué)薄膜測(cè)量?jī)xPX 10166
SM280自動(dòng)顯微薄膜厚度測(cè)繪儀PX 3436
WD4000半導(dǎo)體晶圓形貌測(cè)量機(jī)PX 6948
SpectraRay/4薄膜計(jì)量光譜儀軟件PX 1950
CGSR系列膜厚測(cè)量?jī)xPX 1800
臺(tái)式離線(xiàn)接觸式測(cè)厚儀TOF-6R001PX 6049
MKF1-KW2-20036+428德國(guó)福鳥(niǎo)VOGEL測(cè)量?jī)x常規(guī)型號(hào)現(xiàn)貨PX 4567
BX-G3487高精度太陽(yáng)膜透過(guò)率測(cè)量?jī)xPX 3514
UltraFilm - 薄膜測(cè)量系統(tǒng)PX 7157
FPEH-MX70X晶圓翹曲度測(cè)量?jī)xPX 3044
kSA XRF 在線(xiàn)X射線(xiàn)熒光膜厚測(cè)試設(shè)備PX 3248
TruPlasma Match1000Huttinger 等離子射頻電源PX 3874
qirui光學(xué)薄膜測(cè)厚儀PX 2790
SM230自動(dòng)光學(xué)薄膜厚度掃描測(cè)繪儀PX 3436
SM200系列光學(xué)薄膜厚度測(cè)量?jī)xPX 3436
FR-portable便攜式光學(xué)膜厚儀PX 3436
FR-uProbe微米級(jí)光學(xué)薄膜測(cè)厚儀PX 3436
WD4000晶圓厚度測(cè)量設(shè)備PX 6948
WD4000無(wú)圖晶圓厚度翹曲量測(cè)系統(tǒng)PX 6948
SENTECH SENDIRA薄膜計(jì)量紅外光譜橢圓儀PX 1950
SENTECH SENpro薄膜計(jì)量橢圓光譜儀PX 1950
SENresearch 4.0薄膜計(jì)量橢圓光譜儀PX 1950
SENTECH SE 500adv薄膜計(jì)量激光橢圓儀PX 1950
FTPadv Expert薄膜計(jì)量光譜反射儀軟件PX 1950
FTPadv薄膜計(jì)量膜厚探頭PX 1950
RM 1000/RM 2000薄膜計(jì)量光譜反射儀PX 1950
WD4000晶圓幾何形貌在線(xiàn)測(cè)量系統(tǒng)PX 6948
WD4000晶圓膜厚測(cè)量設(shè)備PX 6948
CGSR系列光學(xué)膜厚儀PX 1800
WD4000晶圓幾何尺寸量測(cè)設(shè)備PX 6948
WD4000晶圓微觀幾何輪廓測(cè)量系統(tǒng)PX 6948
WD4000晶圓翹曲度幾何量測(cè)系統(tǒng)PX 6948
WD4000晶圓微觀三維形貌測(cè)量系統(tǒng)PX 6948
WD4000晶圓微納幾何三維形貌測(cè)量系統(tǒng)PX 6948
WD4000晶圓微納三維形貌量測(cè)系統(tǒng)PX 6948
WD4000晶圓細(xì)磨硅片粗糙度測(cè)量系統(tǒng)PX 6948
WD4000半導(dǎo)體晶圓厚度量測(cè)系統(tǒng)PX 6948
WD4000晶圓表面形貌參數(shù)測(cè)量?jī)xPX 6948
SuperViewW1芯片半導(dǎo)體晶圓非接觸式光學(xué)3D表面輪廓儀PX 6948
WD4000亞納米分辨率晶圓幾何量測(cè)系統(tǒng)PX 6948
薄膜生長(zhǎng)設(shè)備
工藝測(cè)量和檢測(cè)設(shè)備
集成電路測(cè)試與分選設(shè)備
光刻及涂膠顯影設(shè)備
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其它半導(dǎo)體行業(yè)儀器設(shè)備
半導(dǎo)體晶圓形貌測(cè)量機(jī)
晶圓厚度測(cè)量設(shè)備
無(wú)圖晶圓厚度翹曲量測(cè)系統(tǒng)
晶圓幾何形貌在線(xiàn)測(cè)量系統(tǒng)
晶圓膜厚測(cè)量設(shè)備
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晶圓幾何尺寸量測(cè)設(shè)備
光學(xué)膜厚儀
臺(tái)式離線(xiàn)接觸式測(cè)厚儀TOF-6R001
芯片半導(dǎo)體晶圓非接觸式光學(xué)3D表面輪廓儀
上海衡平儀器儀表有限公司
賽默飛色譜及質(zhì)譜
上海平軒科學(xué)儀器有限公司
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